利用亚毫米波准近场实时成像系统对三种常用的微小结构的工业电子排线进行检测, 直接获得了样品在信号峰值处的强度图像。分别对样品中的金属、缺陷及包覆材料连接处抽取数据, 并对其进行频谱及相位处理, 在时域、频域及相位图中做了对比与分析。通过对原始图像进行图像处理后, 分别得到振幅和相位图像, 其中相位图像能更清晰地反映排线中隐藏的缺陷。结果证明, 亚毫米波准近场成像系统可以用于具有细微结构材料的无损检测。

所属栏目

试验研究国家973资助项目(2007CB310408); 北京市教委科技资助项目(KM200810028008)

收稿日期

2009/8/27

作者单位

孙文峰:太赫兹波谱与成像北京市重点实验室, 北京 100048太赫兹光电子教育部重点实验室, 北京 100048首都师范大学 物理系, 北京 100048
王新柯:太赫兹波谱与成像北京市重点实验室, 北京 100048太赫兹光电子教育部重点实验室, 北京 100048首都师范大学 物理系, 北京 100048哈尔滨工业大学 物理系, 哈尔滨 150001
崔烨:太赫兹波谱与成像北京市重点实验室, 北京 100048太赫兹光电子教育部重点实验室, 北京 100048首都师范大学 物理系, 北京 100048
张岩:太赫兹波谱与成像北京市重点实验室, 北京 100048太赫兹光电子教育部重点实验室, 北京 100048首都师范大学 物理系, 北京 100048

备注

孙文峰(1976-), 男, 讲师, 博士, 从事成像技术研究。

引用该论文:

SUN Wen-Feng,WANG Xin-Ke,CUI Ye,ZHANG Yan.Nondestructive Testing of Industrial Flat Cable with the Technology of Terahertz Quasi-Near-Field Real-Time Imaging[J].Nondestructive Testing,2010,32(2):112～115
孙文峰,王新柯,崔烨,张岩.亚毫米波成像技术对工业排线的无损检测[J].无损检测,2010,32(2):112～115

参考文献

【1】

谢旭, 钟华, 袁韬, 等.使用太赫兹技术研究航天飞机失事的原因[J ].物理, 2003, 32(9): 583-584.

【2】

Wang Xinke, Cui Ye, Sun Wenfeng, et al. Terahertz pulse reflective focal-plane[J ]. Opt Express, 2007, 15(22): 14369-14375.

【3】

周燕, 牧凯军, 张艳东, 等.燃料箱泡沫板的连续太赫兹波无损检测[J].无损检测, 2007, 29(5): 266-271.

【4】

Hunsche S, Koch M, Brener I, et al. THz near-field imaging[J]. Opt Commun, 1998(150): 22-26.

【5】

Jiang Z P, Xu X G, Zhang X C. Improvement of terahertz imaging with a dynamic subtraction technique[J]. Appl Optics, 2000, 39(17): 2982-2987.

【6】

Zhong Hua, Sanchez Albert Redo, Zhang X C. Identification and classification of chemicals using terahertz reflective spectroscopic focal-plane imaging system[J]. Opt Express, 2006, 14(20): 9130-9141.

【7】

Zhang L L, Karpowicz Nick, Zhang C L, et al. Real-time nondestructive imaging with THz waves[J]. Opt Commun, 2008(281): 1473-1475.