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位置：标准分享网>无损检测论文>基于CMOS探测器的环焊缝检测系统设计
基于CMOS探测器的环焊缝检测系统设计

  • 资料大小：

  • 更新时间：

    2012-04-02

  • 授权方式：

    共享学习

  • 资料格式：

    PDF

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  • 官方主页：

    http://www.ndt88.com

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资料简介

针对常规X射线照相检测技术检测环焊缝时工作效率低的问题，结合数字成像技术的发展，利用空间分辨率较高的CMOS成像面板，拆除成像板中的扫描驱动机构，重新设计检测系统，对环焊缝进行数字化扫描检测，从而快速、高质量地完成环焊缝的射线检测工作。

所属栏目

实践经验

收稿日期

2012/4/2

作者单位

马文进:宁夏共享集团责任有限公司检测中心，银川750021

备注

马文进(1986-)，男，工程师，主要从事NDT工艺编制及无损检测的工作。

引用该论文:

MA Wen-Jin.System Design of Girth Welding Radiographic Testing Using CMOS X-Ray Linear Array Detector[J].Nondestructive Testing,2013,35(1):69～70
马文进.基于CMOS探测器的环焊缝检测系统设计[J].无损检测,2013,35(1):69～70


参考文献

【1】

《国防科技工业无损检测人员资格鉴定与认证培训教材》编审委员会.射线检测［M］.北京：机械工业出版社,2004.

【2】

马文进.X射线扫描检测技术在环焊缝检测中的应用与分析［J］.现代测量与实验室管理,2010(4):10-12.

【3】

刘琪峰.机械无损检测诊断标准与新技术应用及规范操作全书［M］.北京：中国知识出版社,2006.

【4】

中国机械工程学会无损检测分会.射线检测：第三版［M］.北京：机械工业出版社,2006.

【5】

孙朝明，李强，王增勇，等.CMOS探测器在射线检测中的应用［J］.无损检测,2008,30(4):33-35.
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【关键词】 环焊缝 扫描检测 CMOS探测器  马文进

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