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工业CT锥束X射线能谱及强度的分布模拟
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  • 更新时间:

    2013-08-01

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资料简介

利用蒙特卡罗方法模拟了锥束工业CT系统中X射线的产生过程,分别得到了未加过滤层和加2 mm铁片作为过滤层情况下的X射线能谱;计算了不同靶面倾角下出射X射线相对强度的角分布。随后模拟了X射线通过被测物体后射线强度的分布,分别得到了射线源与探测器间距离相同时,穿过不同直径被测物体以及经过相同的被测物体,但射线源与探测器间距离不同的两种情况下的系统SPR值的分布以及探测器平面不同位置下射线强度的分布。此外还模拟得到了有无被测物体情况下的探测器中心位置的通量能谱分布及一些特殊位置下射线强度的空间分布。模拟结果可以为CT系统图像重建时的散射校正和射束硬化校正提供数据依据,有助于确定探测器单元的最小灵敏度以及为系统的屏蔽防护设计提供参考。

所属栏目

科研成果与学术交流兰州大学自然科学类中央高校基本科研专项资助项目(860452)

收稿日期

2013/8/1

作者单位

王玮:兰州大学 核科学与技术学院,兰州730000
李公平:兰州大学 核科学与技术学院,兰州730000
潘小东:兰州大学 核科学与技术学院,兰州730000
王云波:兰州大学 核科学与技术学院,兰州730000

备注

王玮(1989-),男,硕士研究生,主要从事工业CT系统X射线源的相关模拟与实际平台的搭建工作。

引用该论文:

WANG Wei,LI Gong-ping,PAN Xiao-dong,WANG Yun-bo.The Simulation of Cone Beam X-ray Spectrum and Intensity Distribution of X-ray in Industrial CT System[J].Nondestructive Testing,2014,36(3):9~13
王玮,李公平,潘小东,王云波.工业CT锥束X射线能谱及强度的分布模拟[J].无损检测,2014,36(3):9~13


被引情况:

【1】

郭文明,陈宇亮, "X射线图像灰度值与透照厚度的定量关系",无损检测 38, 14-17(2016)
参考文献

【1】

谈春明.X射线荧光分析原级能谱分布的MCNP模拟[J].原子能科学技术,2010,44(增刊):496-499.

【2】

李立涛,丛鹏,孔祥金.散射对工业CT图像质量的影响[J].核电子学与探测技术,2006,26(1): 33-35.

【3】

张朝宗,郭志平,张朋.工业CT技术和原理[M].北京:科学出版社,2009.

【4】

张定华,黄魁东,程云勇.锥束CT技术及其应用[M].西安:西北工业大学出版社,2010.

【5】

邵义文,卢文婷,周凌宏.锥形束CT系统的散射校正方法分析[J].中国医学物理学杂志,2008,25(3):634-637.

【6】

唐杰,张丽,高文焕.基于平板探测器的锥束CT系统综述[J].中国体视学与图像分析,2004,9(2):65-70.

【7】

胡栋材,陈浩,张定华.基于平板探测器的锥束CT散射校正方法[J].CT理论与应用研究,2009,18(1):16-22.

【8】

王烈波,刘以农,康克军.工业CT的散射研究[J].核电子学与探测技术,2005,25(1):25-27.

【9】

杨民,路宏年,路远.CT重构中射线硬化的校正研究[J].光学技术,2003,29(2):177-182.

【10】

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【关键词】 工业CT 蒙卡模拟 锥束X射线 散射校正 射束硬化校正 屏蔽防护  王玮 李公平 潘小东 王云波

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