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线阵列探测器X射线数字成像试验
  • 资料大小:

  • 更新时间:

    2010-05-12

  • 授权方式:

    共享学习

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    PDF

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    http://www.ndt88.com

资料简介

通过对钢板对接接头气孔模拟缺陷试件的射线数字透射成像检测试验,分析了线阵列X射线数字透射成像检测系统的透照参数、检测工艺与检测图像质量的关系,得出了影响射线数字透射成像图像质量的一些关键因素,给出了射线数字透射成像检测时应该注意的一些问题。

所属栏目

试验研究国防科技工业技术基础科研课题资助项目(T062007A001)

收稿日期

2010/5/12

作者单位

张祥春:中国航空综合技术研究所,北京100028
蔡良续:中国航空综合技术研究所,北京100028
张鹭:中国航空综合技术研究所,北京100028
阙介民:中国科学院 高能物理研究所,北京100049

备注

张祥春(1981-),男,工程师,主要从事X射线数字透射成像检测技术研究。

引用该论文:

ZHANG Xiang-Chun,CAI Liang-Xu,ZHANG Lu,QUE Jie-Ming.X-Ray Digital Radiography Testing with Line Array Detector[J].Nondestructive Testing,2011,33(3):37~39
张祥春,蔡良续,张鹭,阙介民.线阵列探测器X射线数字成像试验[J].无损检测,2011,33(3):37~39


参考文献

【1】

屠耀元,郑世才,李衍.射线检测技术[M].上海:世界图书出版公司,1997.

【2】

郑世才.射线实时成像检验技术[J ].无损检测,2000,22(7):328-333.

【3】

美国无损检测学会编.美国无损检测手册·射线卷[M].《美国无损检测手册》译审委员会译.上海:世界图书出版公司,1992.

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【关键词】 线阵列探测器 X射线数字成像 试验  张祥春 蔡良续 张鹭 阙介民

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