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数字射线检测技术专题(三)——成像过程基本理论
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  • 更新时间:

    2011-12-08

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资料简介

从一般的成像概念,介绍了成像过程的卷积理论和空间频域分析傅里叶变换方法,给出了调制传递函数概念和瑞利判据,并讨论了射线检测的不清晰度与系统扩散函数关系。

所属栏目

数字射线检测技术专题

收稿日期

2011/12/8

作者单位

郑世才:新立机器厂,北京100039

备注

郑世才(1941-),男,研究员,长期从事常规射线、超声、磁粉和渗透检测工作,重点研究了射线检测技术的理论和发展。

引用该论文:

ZHENG Shi-Cai.Digital RadiographyⅢ: A Basic Theory of the Imaging Process[J].Nondestructive Testing,2012,34(3):42~47
郑世才.数字射线检测技术专题(三)——成像过程基本理论[J].无损检测,2012,34(3):42~47


参考文献

【1】

王之江,伍树东.成像光学[M].北京:科学出版社,1991.

【2】

母国光,战元龄.光学(第2版)[M].北京:高等教育出版社,2009.

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加斯基尔J D,著.线性系统· 傅里叶变换·光学[M].封开印,译.北京:人民教育出版社,1981.

【4】

麦伟麟.光学传递函数及其数理基础[M].北京:国防工业出版社,1979.

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谢敬辉,廖宁放,曹良才.傅里叶光学与现代光学基础[M].北京:北京理工大学出版社,2007.

【6】

廖延彪.成像光学导论[M].北京:清华大学出版社,2008.

【7】

Halmshaw R. Industrial Radiology: Theory and Practice[M]. New Jersey:Applied Science Publishers LTD ,1982.

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【关键词】 成像过程 不清晰度 数字技术 射线检测  郑世才

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