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X射线数字成像技术中成像板物距的测量
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  • 更新时间:

    2013-12-11

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资料简介

目前X射线机在无损检测领域发展迅速,但在测量物距时并没有考虑真实成像表面和成像板表面的距离,测量结果会存在一定误差,从而影响图像的不清晰度的计算。首先通过标准的阶梯试块测量出X射线机的最小分辨率。利用标准试块的试验结果,选择合适的电流电压等参数值对试块进行透射,然后根据理论公式计算出成像板表面和真实成像面的距离。试验对检测时得到更准确的物距,计算图像的不清晰度等有重要意义。

所属栏目

试验研究云南电网公司重点科技资助项目(K-YN2012-484)

收稿日期

2013/12/11

作者单位

吕占杰:华北电力大学 机械工程系,保定071003华北电力大学 云南电网公司研究生工作站,昆明650217
王进:云南电力试验研究院(集团)有限公司 电力研究院,昆明650217
韩国栋:华北电力大学 机械工程系,保定071003华北电力大学 云南电网公司研究生工作站,昆明650217
吴章勤:云南电力试验研究院(集团)有限公司 电力研究院,昆明650217
唐贵基:华北电力大学 机械工程系,保定071003
万书亭:华北电力大学 机械工程系,保定071003

备注

吕占杰(1988-),男,硕士研究生,主要从事状态监测与故障诊断、无损检测。

引用该论文:

LV Zhan-jie,WANG Jin,HAN Guo-dong,WU Zhang-qin,TANG Gui-ji,WAN Shu-ting.The Measurement of Object Distance of Imaging Plate in X-ray Digital Imaging Technology[J].Nondestructive Testing,2014,36(5):62~64
吕占杰,王进,韩国栋,吴章勤,唐贵基,万书亭.X射线数字成像技术中成像板物距的测量[J].无损检测,2014,36(5):62~64


参考文献

【1】

闫文斌,王达达,李卫国,等.X射线对复合绝缘子内部缺陷的透照检测和诊断[J].高压电气,2012(10):58-66.

【2】

强天鹏.射线检测[M].北京:中国劳动社会保障出版社,2007.

【3】

李伟.高分辨率X射线数字成像技术研究[D].西安:中国科学院西安光学精密机械研究所,2009.

【4】

郭彦斌.高能X射线源下胶片照相和数字照相的应用分析[C]// 全国核电离子束学术会议.长春:[出版者不详],2006.

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【关键词】 X射线机成像板 物距 最小分辨率 不清晰度  吕占杰 王进 韩国栋 吴章勤 唐贵基 万书亭

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