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多信息超声相控阵缺陷检测

  • 资料大小：

  • 更新时间：

    2016-09-24

  • 授权方式：

    共享学习

  • 资料格式：

    PDF

  • 软件等级：

  • 官方主页：

    http://www.ndt88.com

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资料简介

通过设计虚拟聚焦试验，验证了超声相控阵检测对各个阵元信号进行合成后的A扫信号具有更高的信噪比，从而在使用A扫信号进行成像时，可以提高图像的分辨率，使得缺陷的成像质量更高；更进一步地说明了阵元越多，能够得到试件的信息越多，利用信息形成的图像质量也就越高，检测结果就会更加接近缺陷的真实情况。

所属栏目

超声相控阵检测技术应用专题

收稿日期

2016/9/24

作者单位

杨天雪:福建省特种设备检验研究院, 福州 350001

联系人作者

杨天雪(191130803@qq.com)

备注

杨天雪(1978-),男,博士,高级工程师,主要从事承压类特种设备检验工作

引用该论文:

YANG Tianxue.The Defect Inspection Based on Multi-information Using Ultrasonic Phased Array[J].Nondestructive Testing,2017,39(5):49～52
杨天雪.多信息超声相控阵缺陷检测[J].无损检测,2017,39(5):49～52


参考文献

【1】

FREDRIK L. A method of improving overall resolution in ultrasonic phased array imaging using spatio-temporal deconvolution[J]. Ultrasonic, 2004, 42:961-968.

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【关键词】 超声相控阵 A扫信号 多信息 成像  杨天雪

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