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位置：标准分享网>无损检测论文>叶片荧光渗透检测背景过度的产生原因及改进方法
叶片荧光渗透检测背景过度的产生原因及改进方法

  • 资料大小：

  • 更新时间：

    2017-12-14

  • 授权方式：

    共享学习

  • 资料格式：

    PDF

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    http://www.ndt88.com

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资料简介

某机压气机转子叶片在荧光渗透检测时发现荧光背景过度的现象，经过第一次除氧化膜和第二次除氧化膜返修处理后，查找出背景过度的原因是叶片表面氧化膜未去除干净。因此，在压气机转子叶片的荧光渗透检测前增加了目视检查工艺，确保叶片表面氧化膜去除干净。

所属栏目

实践经验

收稿日期

2017/12/14

作者单位

徐亚亚:中国航发西安航空发动机有限公司 无损检测中心, 西安 710021
刘兴勇:中国航发西安航空发动机有限公司 无损检测中心, 西安 710021

联系人作者

徐亚亚(xyyluck@163.com)

备注

徐亚亚(1976-),女,本科,高级工程师,主要从事荧光渗透检测工作

引用该论文:

XU Yaya,LIU Xingyong.Reason and Improvement Method of Excessive Background in Fluorescent Penetrant Inspection of Vanes[J].Nondestructive Testing,2018,40(5):76～78
徐亚亚,刘兴勇.叶片荧光渗透检测背景过度的产生原因及改进方法[J].无损检测,2018,40(5):76～78


参考文献

【1】

周菊元,王于梅,陈金伟. 大型铝叶片压差铸造工艺[J]. 热加工工艺,1990(3):56-58.

【2】

章海霞,李中奎,许并社,等. 氧化膜结构及内应力对新锆合金腐蚀机理的影响[J]. 金属学报,2014, 50(12):1529-1537.

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【关键词】 荧光渗透检测 氧化膜 预清洗 荧光背景过度  徐亚亚 刘兴勇

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