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X射线检测光纤缠绕缺陷及衰减系数分析
  • 资料大小:

  • 更新时间:

    2010-10-23

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    PDF

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资料简介

利用X射线对光纤缠绕线包进行检测。通过对传统射线仪拍摄的图片进行分析,验证了X射线检测光纤缠绕缺陷的可行性,并提出了具体检测方案。对单层光纤进行扫描检测,得出单层光纤的衰减情况:当入射光子波长为0.154 nm时,单层光纤衰减系数为4.7/mm,其衰减周期为轴对称分布,且光纤中心对射线的衰减并不是最大的,最大衰减介于光纤边缘和中心之间。试验研究结果对光纤缠绕缺陷测试诊断系统的研制提供了理论及试验依据。

所属栏目

试验研究中国兵器科学研究院国防预研基金资助项目(40404050201)

收稿日期

2010/10/23

作者单位

徐振华:南京理工大学 军工试验中心,南京210094
刘津升:南京航空航天大学 金城学院,南京211156
崔骥:南京理工大学 理学院,南京210094

备注

徐振华(1985-),男,助理工程师,硕士,主要从事激光、光电测试等方面的研究工作。

引用该论文:

XU Zheng-Hua,LIU Jin-Sheng,CUI Ji.The Optical Fiber Winding Flaws by X-Ray Detection and Analysis of Attenuation Coefficient[J].Nondestructive Testing,2011,33(7):36~39
徐振华,刘津升,崔骥.X射线检测光纤缠绕缺陷及衰减系数分析[J].无损检测,2011,33(7):36~39


参考文献

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【关键词】 光纤 缠绕缺陷 X射线检测 衰减系数  徐振华 刘津升 崔骥

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