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TOFD检测中采用二次波评定近扫查面缺陷尺寸的方法
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  • 更新时间:

    2008-10-31

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资料简介

在TOFD检测过程中, 因直通波宽度而产生的近扫查面盲区对检测影响很大。为精确定量位于近扫查面盲区的缺陷, 制作了人工缺陷试块, 对其采用常规TOFD以及TOFD二次波分别进行扫查。对比两种扫查方式所得TOFD图像可见, 常规TOFD技术对近扫查面缺陷极易漏检且无法定量, 而利用TOFD二次波扫查方式得到的图像能够显著分辨出缺陷并能精确定量, 因此可弥补常规TOFD检测中对近扫查面缺陷检出能力的不足。

所属栏目

试验研究

收稿日期

2008/10/31

作者单位

孙忠波:天津诚信达金属检测技术有限公司, 天津 300384
齐向前:天津诚信达金属检测技术有限公司, 天津 300384
张平:天津诚信达金属检测技术有限公司, 天津 300384

备注

孙忠波(1981-), 男, 硕士, 多年从事金属性能分析及无损检测工作。

引用该论文:

SUN Zhong-Bo,QI Xiang-Qian,ZHANG Ping.An Evaluation Method for Near Inspection Surface Defect Tested by the TOFD Secondary Wave[J].Nondestructive Testing,2009,31(9):694~696
孙忠波,齐向前,张平.TOFD检测中采用二次波评定近扫查面缺陷尺寸的方法[J].无损检测,2009,31(9):694~696


被引情况:

【1】

郑红霞,孙忠波, "TOFD检测中扫查方式与检测盲区的关系",无损检测 33, 43-46(2011)

【2】

陈振华,胡怀辉,卢超, "基于超声TOFD法直通波幅度分布的近表面缺陷检测",无损检测 35, 47-50(2013)
参考文献

【1】

伊新.TOFD检测技术基本原理及其应用探讨[J].特种设备安全技术,2008,10(2):54-56.

【2】

CEN/TS 14751 TOFD on Weld Seams[S].

【3】

Charlesworth J P. Engineering Applications of Ultrasonic Time-of-Flight Diffraction[M]. UK: Research Studies Press Ltd,2001.

【4】

李衍.超声TOFD原理和方法要领[J].无损检测,2007,29(2):88-93.
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【关键词】 超声波衍射时差技术 近扫查面盲区 直通波 二次波扫查  孙忠波 齐向前 张平

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