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正电子湮没无损测试技术与应用
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  • 更新时间:

    2012-05-28

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资料简介

介绍了一种探测和表征物质微观结构的技术——正电子湮没无损测试技术。该技术可用于固体物理晶体缺陷、材料相结构与相结构转变的研究,是一种研究物质微观结构、缺陷、疲劳等的无损测试新技术。根据该技术与方法的固有特征,判定该技术在飞机、导弹质量控制中极具有发展和应用前景。

所属栏目

综述

收稿日期

2012/5/28

作者单位

许占显:广东环境保护工程职业学院 机电工程系,佛山528216

备注

许占显(1964-),男,教授,主要从事机械、航空结构的无损检测、安全评价与隐身技术。

引用该论文:

XU Zhan-Xian.Positive Electron Annihilation Nondestructive Measurement Technique and Application[J].Nondestructive Testing,2013,35(11):72~75
许占显.正电子湮没无损测试技术与应用[J].无损检测,2013,35(11):72~75


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【关键词】 正电子湮没 疲劳 微观 无损检测  许占显

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