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TFT面阵探测器X射线数字透射成像
  • 资料大小:

  • 更新时间:

    2010-08-18

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    PDF

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资料简介

通过对裂纹模拟缺陷试件的数字透射成像检测试验,分析并研究了面阵探测器成像检测系统、透照参数、检测工艺与检测图像质量的关系,并给出了检测过程中应该注意的问题。具体试验表明:面阵探测器X射线数字成像系统在一定厚度范围内的检测效果(主要是图像的单丝像质计指数)优于同厚度的射线照相B级要求。

所属栏目

试验研究国防科技工业技术基础科研课题基金资助项目(T2007A001)

收稿日期

2010/8/18

作者单位

张祥春:中国航空综合技术研究所,北京100028
蔡良续:中国航空综合技术研究所,北京100028
张鹭:中国航空综合技术研究所,北京100028
王曼:北京航空航天大学,北京100083

备注

张祥春(1981-),男,工程师,主要从事X射线数字透射成像及工业CT检测技术研究。

引用该论文:

ZHANG Xiang-Chun,CAI Liang-Xu,ZHANG Lu,WANG Man.TFT Flat Detector X-Ray Digital Transmission Imaging[J].Nondestructive Testing,2011,33(5):32~34
张祥春,蔡良续,张鹭,王曼.TFT面阵探测器X射线数字透射成像[J].无损检测,2011,33(5):32~34


参考文献

【1】

屠耀元,郑世才,李衍.射线检测技术[M].上海:世界图书出版公司,1997.

【2】

郑世才.射线实时成像检验技术[J].无损检测,2000,22(7):328-333.

【3】

美国无损检测学会,编.美国无损检测手册·射线卷[M].《美国无损检测手册》译审委员会,译.上海:世界图书出版公司,1992.

【4】

梁丽红,孔凡琴,路宏年.X射线非晶硅面阵探测器B级像质的研究[J].无损检测,2005,20(5):128-132.
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【关键词】 面阵列探测器 数字透射成像 检测参数 图像质量  张祥春 蔡良续 张鹭 王曼

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