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TOFD信号的深度分辨力和上、下盲区(下)

来源:无损检测人才网 时间:2012-09-23 作者:梁金昆 浏览量:

接着TOFD信号的深度分辨力和上、下盲区(上)继续分析

2 深度分辨力的公式推导和求证方法举例

2.1讨论的前提和范围

2.1.1 讨论的缺陷上下端点均处2s中垂线上

由于这个前提,下面公式才成立:

(1)设缺陷上端深度为h1,那么它的声程为2L1

2L1=2.(h12+S2)1/2 (5)

(2)设缺陷的下端为h2,声程为2L2

2L2=2.(h22+S2)1/2 (6)

2.1.2 s= λ

公式(3)仍是深度分辨力的基础:

s=2L2-2L1=2.(h22+S2)1/2-2.(h12+S2)1/2

= λ (7)

整理公式(7):

(h22+S2)1/2=(h12+S2)1/2+0. 5λ (8)

公式(8)实质是:L2=L1+0.5λ

2.2 公式推导

2.2.1 h2

h2=(h12+S2)1/2+0.5λ2-S21/2 (9)

2.2.2 R

R=(h12+S2)1/2+0.5λ2-S21/2-h1 (10)

2.2.3 R的方法举例----1

已知:使用5MHz、脉冲持续时间n2个周期的探头,检测40mm厚工件,探头对中心距2S=100mmh1=5mm。求此深度下的分辨力R为多少?

可以直接代入公式(10),也可以按下列两种方法求得:

2.2.3.1 解法之一-----分步计算法

(1) λ=C/f=(6mm/μs)÷(5/μs)=1.2mm

(2) L1=(52+502)1/2=50.25 (mm)

(3) L2=L1+0.5λ=50.25mm+0.6mm=50.85mm

(4) h2=(50.852-502)1/2=9.26 (mm)

(5) R=h2-h1=9.26mm-5mm=4.26mm

2.2.3.2解法之二-----作图法

(1)画出AB水平线段,AB=2S=100mm;

(2)AB中点OAB垂线,在中垂线上取C点,使OC=5mm;

(3)连接AC,测量ACAC=L1;

(4)已知波长λ=1.2mmL1+0.6mm=L2;

(5)A点为圆点,以L2为半径画弧,与中垂线交于D点,OD=h2;

(6)R=CD

3 上、下表面盲区高度的计算公式

其实,上、下盲区高度的问题,就是深度分辨力的特例。上盲区是h1=0的情况,下盲区是h2=T的情况。

3.1 上盲区高度

3.1.1 计算公式

h1=0时,公式(10)变为:

R=h2=(S+0.5λ)2-S21/2 (11)

笔者注:该式适用于短脉冲(持续时间不超过2个周期)的探头,且可分辨时差设为1个周期。

3.1.2 计算举例

所有已知条件同例1,只是h1=0。又知:

λ=C/f=(6mm/μs)÷(5/μs)=1.2mmL1=S+0.5λ=50.6mm,计算上盲区高度R

R=(50.62-502)1/2=7.8 (mm)

3.2 下盲区高度

3.2.1 计算公式

R=T-(T2+S2)1/2-0.5λ2-S21/2 (12)

笔者注:该式适用脉冲持续时间为2个周期。有人把底波持续时间算进去,似是概念错误。缺陷衍射波在底波之前,它的持续时间不会超过两个周期,而可识别时间又仅为1个周期。

3.2.2 计算举例

所有已知条件同例1,只是h2=T=40mm。又知:

λ=C/f=(6mm/μs)÷(5/μs)=1.2mm,计算下盲区高度R

L2=(T2+S2)1/2=(402+502)1/2=64mm

L1=L2-0.5λ=64mm-0.6mm=63.4mm

h1=(63.42-502)1/2=39 (mm)

R=T-h1=40mm-39mm=1mm

3.2.3 计算与实测误差

资料〔1〕第95页就下列叙述:当今使用的TOFD仪器已能提供足够高分辨力的D扫描图像,用其测量底面平整试块上的足够长的槽,只要缺陷信号超前底面信号1个周期,甚至0.5个周期,就可以识别。因此,焊缝中心的底面盲区即使存在,也是很小的,对底面无余高的焊缝,盲区一般不超过1mm,甚至小于0.5mm

4 结论

1)既使使用窄脉冲(测得的直通波持续时间按峰值10%以上时间计,不超过2个周期)信号,时间分辨力也不等于脉冲持续时间,除底面反射波外,其它信号,如直通波,缺陷上或下端点衍射波,其时间分辨力大约为1个周期。

2)由上述结论导出的、求深度分辨力理论,可概括为:处于2S中垂线上两深度h2h1之间的分辨力R,取决于半声程L2L1之差为0.5λ,即:L2=L1+0.5λ

3)计算总是近似的或接近的。通常而言,处于焊缝中心(2S中垂线上的)下盲区高度,很小,可以不必用试块实测;但上盲区高度,应用对比试块测试,才可以得到较准确的数据。(全文完)

参考资料

1强天鹏主编.衍射时差法(TOFD)超声检测技术〔M(2011).

2〕强天鹏等. TOFD技术检测盲区的计算和特性分析.2008远东论坛论文

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