一．特种设备无损检测培训是非题
1. 波动是振动状态的传播过程，因此波动的频率和振动的频率是相同的
2. 超声波除了用来探测工件中的缺陷以外，还可以用来测厚、 晶粒度和应力等
3. 超声波的能量远大于声波的能量，1M Hz的超声波的能量相当于1K Hz声波能量的100万倍
4. 超声波频率越高传播速度越快。
5. 液体介质中能传播纵波,也能传播横波。
6. 空气中只能传播纵波，不能传播横波
7. 质点的振动方向与波的传播方向一致的波称为横波。
8. 表面波只能在固体表面传播，不能在液体表面传播。
9. 在超声波传播方向上，单位面积. 单位时间通过的超声能量叫声强
10. 声强与超声频率的平方成正比
11. 声压是指超声场中某点的压强与该点没有超声波存在时的静态压强之差。
12. 声阻抗等于介质的密度与声速的乘积.
13. 声压差2倍，则两信号的分贝差为6dB（分贝）
14. 两声压或波高之比取自然对数后的单位是分贝。
15. 大平底声程差1倍，则声压差6dB
16. 平底孔声程差1倍，则声压差12dB
17. 平底孔孔径差1倍，回波差12dB
18. 长横孔孔径差1倍，回波差3dB
19. 长横孔声程差1倍，回波差9dB
20. 超声波垂直入射到异质界面时，其声压反射率或透射率与界面两侧介质的声阻抗有关。
21. 同一固体材料中传播纵波和横波时的声阻抗一样。
22. 引起超声波衰减的主要原因是扩散、晶粒散射和介质吸收。
23. 当超声波纵波斜入射时，纵波折射角等于90°时的入射角叫第一临界角。
24. 在第二介质中采用横波探伤时，要求第二介质的纵波声速要大于第一介质的纵波声速，且入射角要大于第一临界角。
25. 超声波无损检测探测气孔时灵敏度低。
26. 超声波频率高，传播距离远，探测灵敏度高。
27. 声束指向性不仅与频率有关而且与波型有关。
28. 频率越高，晶片直径越大，指向性越好。
29. 因为超声波会扩散衰减，因此检测应尽可能在近场区进行。
30. 如果超声波频率不变，晶片面积越大则近场长度越短。
31. 超声场近场长度越短，指向性越差。
32. 一般来讲，晶片直径越大，产生的超声波越强，探测距离越远。
33. A型脉冲反射式超声波探伤仪是以判断回波位置. 回波高度和回波形状来评价缺陷的。
34. B型显示能展现工件中缺陷的埋藏深度。
35. C显示能展现工件中缺陷的投影形状，不能展现深度。
36. 根据缺陷阴影来判断缺陷的方法叫穿透法，穿透法灵敏度比脉冲法高
37. 探头的近场区就是探头的盲区。
38. 单晶直探头始脉冲宽，盲区大。双晶直探头盲区小。
39. 垂直线性好的仪器，动态范围基本相同
40. 所谓硬保护膜是指探头晶片的保护膜机械强度大，在工件上移动时耐磨不易损坏探头
41. 阻尼块的作用是使探头晶片振动时间缩短，但同时也吸收了探头产生的杂波
42. 毛面探伤时，用软保护膜探头灵敏度比硬保护膜探头低
43. 双晶直探头相当于一个粗糙的聚焦探头，探头中两个晶片的倾角越大则探测深度越大
44. 聚焦探头的主要优点是声束细，指向性好，能量集中，定位精度高，扫查范围大。
45. 斜探头楔块前部和上部开消声槽的目的是使声波返回到晶片处，减少声能损失。
46. 由于水中只能传播纵波，所以水浸探伤只能进行纵波探伤。
47. 超声波无损检测探伤时缺陷尺寸检出的极限约为波长的一半。
48. “灵敏度”意味着发现小缺陷的能力，因此超声波探伤灵敏度越高越好。
49. 当量法用来测量小于声束截面的缺陷尺寸。
50. 半波高度法用来测量大于声束截面的缺陷尺寸。
51. 只有当工件中缺陷在各个方向的尺寸均大于声束截面时才能采用测长法确定缺陷长度。
52. 采用移动探头法测量小于声束截面缺陷的大小所得结果就是声束截面的尺寸
53. 为提高耦合效果，耦合层厚度小于l/4时越薄越好
54. 当耦合层厚度为l/4的奇数倍时，耦合效果最差
55. 当介质中存在异质薄层时，当薄层厚度为l/2的整数倍时透声性最好。
56. 当介质中存在异质薄层时，当薄层厚度为l/4的奇数倍时透声性最差。
57. 手工操作时，为使探头与工件良好接触，用力越大越好。
58. 机油可作为斜探头与工件之间的耦合剂，因此机油能够传播横波
59. 纵波直探头水浸法探伤时，超声波在水层中传播的时间应当小于在工件中传播的时
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1. 水浸法无损检测最大优点是，超声通过水层传播，受表面状态影响不大。
2. 水浸法探伤加表面活性剂的目的是水能够更好地润湿钢板。
3. 水平调试的含义是，当反射点到缺陷点距离为W时，荧光屏上直接读出缺陷的水平距离为WSinβ（β为探头折射角）.
4. 不合适的探伤面不修磨，影响探伤灵敏度，但不影响缺陷的定位和定量。
5. 探头声场指向性强而缺陷回波指向性不强时，缺陷定位比较准确
6. 探头声场指向性不强而缺陷回波指向性较强时，缺陷定位误差较大
7. 对缺陷定量时，当声程X≥3N时，用当量计算法或AVG法；当X<3N时，只能采用试块比较法
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