2.50 按标准规定，像质计放置的原则是单壁透照像质计放置在( )；双壁单影透照像质计放置在( )；双壁双影透照像质计放置在( )。
A．胶片侧B．源侧 C．两侧均可 D．以上都是
2.51 使用像质计的局限性是( )。
A．不能提供底片灵敏度的永久性证据 B．不能比较两种透照技术的质量高低
C．不能提供检出缺陷尺寸的度量指示 D．不能验证透照工艺的适当性
3.1 影响射线照相灵敏度三个主要因素是( )。
A．对比度、清晰度、影像颗粒度 B．清晰度、宽容度、黑度
C．感光速度、灰雾度、对比度 D．清晰度、黑度、最小可见对比度
3.2 射线照相灵敏度描述的是( )。
A．射线照相底片能够发现的最小缺陷尺寸，或发现和识别细小影像的难易程度
B．射线照相底片记录和显示缺陷的检出率
C．射线照相底片记录可检范围
D．以上都是
3.3 射线照相绝对灵敏度就是( )。
A．射线照片上可检出缺陷的能力
B．射线照片上所能发现的沿射线穿透方向上的最小缺陷尺寸
C．射线照片上所能发现缺陷的大小
D．以上都不是
3.4 标准中所讲灵敏度都是像质计灵敏度，像质计灵敏度是指( )。
A．用自然缺陷来评价影像质量的灵敏度
B．在一定透照厚度范围内，用像质计可识别金属丝的丝号来评价影像质量的灵敏度
C．用黑度计来评价影像质量的灵敏度
D．以上都是
3.5 裂纹类面状缺陷的检出率，不仅取决于底片的质量，还取决于 ( )。
A．缺陷自身的高度 B．缺陷宽度
C．缺陷与射线束的角度 D．以上都是
3.6 主因对比度与工件透照厚度差成 ( )。
A．正比 B．反比 C．平方反比 D．以上都是
3.7 主因对比度主要取决于( )。
A．工件的厚度差B．射线的质C．散射比D．以上都是
3.8 胶片对比度主要取决于( )。
A．胶片类型B．底片黑度C．显影条件D．以上都是
3.9 提高底片对比度通常的方法是( )。
A．增大源到工件表面的距离 B．延长显影时间
C．减少源到工件表面的距离 D．增大射线的波长
3.10 底片对比度取决于( )。
A．焦点尺寸和底片黑度 B．主因对比度和胶片对比度
C．清晰度和增感方式D．显像条件和清晰度
3.11 底片宽容度是指( )。
A．在底片有效评定区规定的黑度范围内可容纳工件的厚度范围
B．在底片有效评定区规定的黑度范围
C．底片上不同区域黑度差
D．以上都是
3.12 由于X射线管焦点或γ射线源都有一定尺寸，所以透照工件时，工件中的缺陷在底片上的影像边缘会产生一定宽度的半影，此半影宽度称为( )。
A．固有不清晰度B．几何不清晰度
C．影像颗粒度D．以上都是
3.13 几何不清晰度的数学表达式为( )。
A．Ug=db/fB．Ug=fb/d C．Ug=fd/b D．Ug=f/db
3.14 影响几何不清晰度因素主要取决于( )。
A．焦点尺寸B．焦点至工件表面的距离
C．工件表面到胶片距离 D．以上都是
3.15 影响固有不清晰度因素主要取决于( )。
A．增感屏种类B．射线的质
C．增感屏与胶片贴紧程度 D．以上都是
3.16 影响射线照相不清晰度因素主要取决于( )。
A．几何不清晰度和固有不清晰度 B．对比度和几何不清晰度
C．胶片对比度和主因对比度 D．宽容度和固有不清晰度
3.17 影响射线照相颗粒度的因素是( )。
A．胶片系统B．射线能量 C．曝光量和底片黑度 D．以上都是
3.18 对于磨平的焊缝透照时应( )。
A．采用较低的管电压，以提高主因对比度
B．采用细粒度胶片，以提高胶片对比度
C．提高底片的黑度，以提高胶片对比度
D．以上都是
3.19 底片最小可见对比度△Dmin与( ) 因素有关。
A．底片黑度B．胶片颗粒性
C．观片条件和个人视觉能力 D．以上都是
4.1 编制检测工艺应遵循的原则是( )。
A．按现行检测标准编制，适用于本单位的检测对象
B．满足相关法规和标准的要求
C．技术上先进，经济上合理
D．以上都对
4.2 射线检测工艺条件是指( )。
A．设备器材条件 B．透照几何条件和工艺参数条件
C．工艺措施条件 D．以上都是
4.3 透照时选择射线源和能量，一般应考虑的因素包括 ( ) 等因素进行综合考虑，合理选择。
A．射线穿透能力 B．照相灵敏度
C．射线设备的特点和检测环境 D．以上都是
4.4 从透照灵敏度角度考虑，在保证穿透力的前提下，应选择较低的管电压，JB/T4730.2-2005图1规定了一些材料的透照厚度所对应允许使用的最高管电压。但对截面厚度变化大的工件，在保证灵敏度要求的前提下，允许超过此规定。对钢、铜及铜合金材料管电压增量不超过( )；对钛及钛合金材料管电压增量不超过( )；对铝及铝合金材料管电压增量不超过( )。
A．30kVB．50kV C．20kV D．40kV
4.5 按AB级射线检测技术要求， 
γ射线允许的透照厚度范围是 ( ) mm。
A．≥20～100 B．≥40～90 C．≥30～95D．以上都不是
4.6 按AB级射线检测技术要求， 
γ射线允许的透照厚度范围是 ( ) mm。
A．≥60～150 B．≥50～175 C．≥40～200 D．以上均可
4.7 采用源在内中心透照方式，在保证像质计灵敏度要求的前提下，允许γ射线最小透照厚度取规定下限值的 ( )。
A．1/3B．1/4 C．1/2 D．以上均可
4.8 对于AB级照相而言，采用 源透照厚度下限为 ( ) mm；采用 源透照厚度下限为 ( ) mm。当采用中心内透照时，其透照厚度下限值可降至1/2。
A．20 B．30 C．40 D．50
4.9 按JB/T4730.2-2005标准规定，透照厚度W等于 ( )。
A．单壁透照时，射线照射方向上材料的公称厚度加余高
B．双壁单影透照时，射线照射方向上通过的两层材料公称厚度之和加透照部位的余高
C．双壁双影透照时，射线照射方向上通过的两层材料公称厚度之和加两侧的余高
D．射线照射方向上材料的公称厚度，多层透照时，为通过的各层材料公称厚度之和
4.10 单壁透照的透照厚度W等于 ()，双壁单影的透照厚度W等于 ( )，双壁双影的透照厚度W等于( )。
A．2T B．2T+h C．T D．T+2h
4.11 JB/T4730.2-2005标准规定，确定像质计灵敏度和射线能量限值用( )，评定底片用 ( )，确定曝光参数用 ( )。
A．材料公称厚度B．透照厚度C．穿透厚度 D．以上都不是
4.12 胶片系统是指( ) 的组合。
A．胶片B．增感屏 C．冲洗条件 D．以上都是
4.13 冲洗条件包括( )。
A．冲洗方式B．显影配方 C．显影时间和温度 D．以上都是
4.14 标准规定，胶片系统分为四类，即T1、T2、T3、和T4类。其中最高类别为 ( )。
A．T1B．T2 C．T3 D．T4
4.15 AB级射线检测技术应采用( ) 类或更高类别的胶片。
A．T1 B．T2 C．T3 D．T4
4.16 按JB/T4730.2-2005标准规定，采用γ射线对裂纹敏感性大的材料进行射线检测时，应采用 ( ) 类或更高类别的胶片。
A．T1 B．T2 C．T3 D．T4
4.17 一般来说，为发现工件中较小的缺陷，应采用( )。
A．感光速度慢的胶片B．感光速度快的胶片
C．粒度大的胶片D．以上均可
4.18 对于裂纹敏感性材料的对接接头进行γ射线检测时，应采用 ( ) 牌号的胶片。
A．天津Ⅲ型B．AgfaC7 C．Agfa D7 D．Agfa D4
4.19 对于AB级而言，其几何不清晰度的计算公式为 ( )。
A．Ug≤2/15·b1/3 B．Ug≤1/15·b1/3 C．Ug≤1/10·b1/3 D．以上都不是
4.20 下列尺寸相同的缺陷，容易检出的位置是( )。
A．近表面（源侧） B．中心部位
C．近底面（胶片侧） D．近侧面
4.21 以相同的条件透照同一工件，若焦距缩短20%，则灵敏度稍有降低，而曝光时间可减少 ( )。
A．64%B．36% C．30% D．60%
4.22 对射线检测技术等级中的AB级而言，射线源至透照部位工件表面的最小距离f为 ( )。
A．f≥15db2/3 B．f≥10db2/3 C．f≥1/10·b1/3 D．f≥10db1/3
4.23 采用源在内中心透照方式周向曝光时，只要得到的像质计灵敏度和黑度符合要求，f值可以减小，但减小值不应超过规定值的 ( )。
A．20%B．30% C．40% D．50%
4.24 采用源在内偏心单壁透照方式时，只要得到的像质计灵敏度和黑度符合要求，f值可以减小，但减小值不应超过规定值的 ( )%。
A．10 B．50 C．20 D．80
4.25 在无增感的条件下，管电流为5mA时，获得理想的射线底片，所需曝光时间为12分钟，假如其他条件不变，而管电流增加到10mA，则正确的曝光时间为( )。
A．24分钟 B．12分钟C．6分钟 D．3分钟
4.26 源的半衰期为5.3年，用一个新源进行射线检测可得到满意的射线底片，两年后用该源对同一工件按同样条件进行射线检测，为得到同样的射线底片，曝光时间( )。
A．不变B．约延长10% C．约延长30% D．约延长60%～100%
4.27 JB/T4730.2-2005标准规定，对于AB级射线检测技术，当焦距为700mm时，曝光量的推荐值不小于( ) mA·min。当焦距改变时可按曝光因子公式对曝光量的推荐值进行换算。
A．10B．15 C．20 D．30
4.28 对于AB级射线检测技术，标准推荐焦距700mm时，曝光量不低于15mA·min，使用推荐二字的含义是 ( )。
A．通常情况下必须这样选择曝光量，这主要是限制操作者采用高管电压短时间快速照相的不良作法，确保底片的对比度和X光机安全运行
B．特殊情况下，如薄板双面自动焊等，为保证底片有效评定区域内焊接和热影响区的黑度均在标准规定范围内，在保证灵敏度要求的前提下，可采用高管电压短时间的操作
C．对于小径管，也可采用“高管电压短时间”操作
D．以上都对
4.29 用 源使用铅增感透照某工件，焦距为1.0m时，10min可得到满意的底片，其他条件不变，焦距变为0.7m，为得到同样的底片黑度，曝光时间应为( ) min。
A．1.7B．4.9 C．6.1 D．8.2
4.30 用半衰期为75天的 源对某工件透照的最佳曝光时间为40分钟。5个月后，用该源在相同的条件下透照原工件，要得到同样黑度的底片，曝片时间为 ( )。
A．2小时 B．4小时 C．2小时40分钟 D．50分钟
4.31 在曝光因子的公式中，管电流、曝光时间和焦距三者的关系是( )。
A．管电流不变，时间与焦距的平方成反比
B．管电流不变，时间与焦距的平方成正比
C．焦距不变，管电流与曝光时间成正比
D．曝光时间不变，管电流与焦距成正比
4.32 在曝光因子的公式中，管电流、曝光时间和焦距三者的关系是( )。
A．管电流不变，时间与焦距的平方成正比
B．焦距不变，管电流与曝光时间成反比
C．曝光时间不变，管电流与焦距的平方成正比
D．以上都是
4.33 一定曝光量所需的曝光时间t与射线源至胶片的距离F的关系应为 ( )。
A．t2/tl= 
B．tl/t2= 
C．t2/tl=F1/F2 D．tl/t2=F1/F2
4.34 按标准规定，应根据工件的特点和技术条件的要求选择适宜的透照方式。在可以实施的情况下应选用( )透照方式。
A．单壁B．双壁双影 C．双壁单影 D．以上都是
4.35 单壁透照技术中最佳的是( )，较差的是 ( )。
A．单壁外透照B．环缝中心透照 C．环缝偏心内透照 D．纵缝透照
4.36 现有1000M3石油液化气钢制球罐，内径12.3m，壁厚40mm，需100%射线检测，其透照方式通常为 ( )。
A．用300KV周向X光机做内透照 B．用 做中心周向曝光
C．用 做中心周向曝光 D．以上均可
4.37 现有一壁厚10mm，内径400mm的一个筒节与封头拼接的组件，需100%透照，其最佳透照方式为 ( )。
A．用周向X光机作中心曝光 B．单壁外透照
C．双壁单影透照D．以上均可
4.38 现有一壁厚30mm，内径500mm的一个筒节与筒节环缝需100%透照，其最佳透照方式为 ( )。
A．用XXH3005X光机（焦点尺寸1.0×2.5mm）做中心曝光
B．用 γ源（焦点尺寸Φ3×3mm）做中心曝光
c．用 γ源（焦点尺寸Φ5mm）做中心曝光
D．以上均可
4.39 用平靶周向X光机透照高颈法兰与短节组件环焊缝时，最佳的透照方法是( )。
A．将组件立放，法兰侧朝下且垫一定高度，X光机阳极端朝下立于短节的中心轴线上，使主射线束对准焊缝透照
B．将组件立放，法兰侧朝上且垫一定高度，X光机阳极端朝下立于短节的中心轴线上，使主射线束对准焊缝透照
C．将组件卧放，垫高短节侧，使组件中心轴线与地面平行。X光机放于组件中心轴线上，使主射线束对准焊缝透照
D．以上均可
4.40 有一内径450mm，壁厚12mm的高颈法兰与短节组件，环向对接焊接接头的最佳透照方式为( )。
A．双壁单影透照B．单壁外透照C．中心透照 D．偏心内透照
4.41 现有一壁厚80mm，内径600mm的筒节与筒节接的环向对接焊接接头需100%透照，其最佳透照方式为 ( )。
A．用XXH3005X光机（焦点尺寸1.0×2.5mm）做周向中心透照
B．用 γ源（焦点尺寸Φ3×3mm）做偏心内透照（F>R）
c．用 γ源（焦点尺寸Φ3×3mm）做中心透照
D．用 γ源（焦点尺寸Φ3×3mm）做中心透照
4.42 环向对接焊接接头采用周向X光机中心法检测的优点是 ( )。
A．透照距离相同，透照厚度均一，所得底片的黑度均一，灵敏度高，其成像质量优于其他透照方式
B．K=1，失真角为0，对接焊接接头中的横向缺陷检出率最高
C．一次曝光能完成整条环向对接焊接接头的检测，检测效率高
D．以上都是
4.43 在满足几何不清晰度要求的情况下，一次透照长度受( ) 的控制。
A．胶片长度B．焊缝长度 C．透照方式 D．透照厚度比
4.44 对射线检测技术等级中的AB级而言，纵向对接焊接接头透照厚度比K应满足( )。
A．≤1.06B．≤1.1 C．≤1.2 D．≤1.03
4.45 用周向X光机透照纵向对接焊接接头，一次透照长度为500mm，要满足K≤1.03的要求，焦点至工件表面的距离至少为 ( ) mm。
A．600B．700 C．900 D．1000
4.46 用焦点至工件表面的距离f=700mm，透照T=30mm的纵向对接焊接接头，一次透照长度L3最长为 ( ) mm。
A．500B．400 C．350 D．300
4.47 对射线检测技术等级中的AB级而言，环向对接焊接接头透照厚度比K应满足( )，当透照100mm<D0≤400mm的环向对接焊接接头时，透照厚度比K允许 ()。
A．≤1.06B．≤1.1 C．≤1.2 D．≤1.03
4.48 对于纵缝的AB级而言，源至工件表面的距离f与一次透照长度L3的关系应满足( )。
A．f≥2L3 B．f≥3L3 C．f≥1.5L3 D．以上都不对
4.49 搭接长度是指一张底片与相邻底片重叠部分的长度。有效评定长度是指一次透照长度在底片上的投影长度。实际工作中应知道这两项数据，以确定所使用( ) 的长度和底片的 ( )。
A．胶片B．有效评定长度<
