文章概况：2012特种设备Ⅰ、Ⅱ级无损检测人员射线探伤培训是非判断题和答案第二部分
2.11 X射线机的输出效率不会因电缆线的加长而发生变化。 ( )
2.12 X射线管的实际焦点是指阳极靶被电子撞击的部分，有效焦点是指实际焦点在垂直于管轴线上的正投影。 ( )
2.13 长方形焦点和椭圆形焦点，其有效焦点尺寸按d=(a+b)/2公式计算（式中：a-长或长轴，b-宽或短轴）。 ( )
2.14 方焦点X光管，其有效焦点尺寸按边长计。 ( )
2.15 在管电压、管电流和冷却条件相同的情况下，焦点尺寸越小，其阳极温度越高。
( )
2.16 管电压一定，X光管可承受的负荷取决于焦点尺寸和阳极靶冷却的效果。 ( )
2.17 X射线管的阴极特性是指灯丝温度与饱和电流密度的关系曲线。 ( )
2.18 X射线管的阳极特性是指管电流与管电压的关系曲线。 ( )
2.19 在使用过程中，阳极靶冷却不良会影响管电流的稳定性。 ( )
2.20 工业检测用的X射线管工作在电流饱和区，要改变管电流，只有改变灯丝的加热电流。 ( )
2.21 贮罐用贫化铀作屏蔽，主要原因是贫化铀μ值大，可制造出体积小，重量轻的贮罐。 ( )
2.22 γ射线探伤机按机体机构可分为直通道形式和“S”通道形式。 ( )
2.23 对不同种类的放射性同位素，高活度的同位素总是比低活度的同位素具有更高的辐射水平。 ( )
2.24 比活度越大，意味着该放射性同位素源的尺寸可以做的更小。 ( )
2.25 按标准要求，底片的本底灰雾度应不大于0.3。 ( )
2.26 天津Ⅲ，AgfaD7，上海GX-A7属于T3类胶片。 ( )
2.27 实际使胶片卤化银颗粒感光的因素是电子。 ( )
2.28 不同类型的胶片，在相同的透照条件下绘制特性曲线的形状相同。 ( )
2.29 射线胶片两面涂感光乳剂层的目的是提高胶片的感光度和清晰度。 ( )
2.30 胶片的梯度低，其宽容度必然大。 ( )
2.31 “潜影”的产生是银离子接受电子还原成银的过程。 ( )
2.32 潜影形成后，如相隔很长时间才显影，得到的影像比及时冲洗得到的影像较淡，此现象称为潜影衰退。潜影衰退实际上是构成潜影中心的银又被空气氧化而变成Ag＋离子的逆变过程。 ( )
2.33 表征胶片相对曝光量与底片黑度之间关系的曲线，称胶片特性曲线。 ( )
2.34 胶片灰雾度是指曝光量为零时底片的黑度。 ( )
2.35 胶片梯度值与显影条件有关，即显影配方、时间、温度等的变化都会使胶片梯度值发生改变。 ( )
2.36 在实际应用范围内，射线的线质对胶片特性曲线的形状基本上无影响。 ( )
2.37 管电压、管电流和穿透厚度之间关系的曲线称胶片特性曲线。 ( )
2.38 改变胶片的曝光量引起相应底片上黑度差的固有能力称为胶片对比度。 ( )
2.39 增感系数是指其他条件不变时，使用增感屏与不使用增感屏所需曝光时间之比。
( )
2.40 对于同一金属屏材质时，在300kVP以下，管电压越高，增感系数越大。 ( )
2.41 增感系数随γ射线能量的增高而减小。 ( )
2.42 荧光增感的原理是射线与荧光物质作用，产生荧光，从而加速胶片的感光过程。
( )
2.43 金属增感屏受X或γ射线照射激发出二次电子产生二次射线，使胶片增感。常用的金属材料是铅，它的粒度细，增感系数小，所得底片的清晰度高。 ( )
2.44 胶片和增感屏在射线检测过程中应始终相互紧贴。 ( )
2.45 入射光强与穿过底片的透射光强之比的自然对数称为黑度。 ( )
2.46 已知入射光强为3000cd/m2，穿过底片的透射光强为30cd/m2，该底片黑度不满足AB级射线检测要求。 ( )
2.47 黑度计至少每6个月校验一次，并有记录可查。 ( )
2.48 标准黑度片至少每两年送计量单位检定一次。 ( )
2.49 黑度计可测量的最大黑度不小于4.5，测量值误差应不超过±0.05。 ( )
2.50 像质计是用来检查透照技术和胶片处理质量的，衡量该质量的数值是识别丝号，它等于底片上能识别出的最细钢丝的线编号。 ( )
2.51 已知Ⅱ型像质计的最粗金属丝直径为1.0mm，则中间一根为0.5mm，最细一根为0.25mm。 ( )
2.52 采用R10系列像质计，其线编号Z与钢丝直径d的关系式为Z=6-101gd。 ( )
2.53 小口径钢管专用像质计，由5根直径相同的钢丝和铅字符号组成，其像质计的代号用Fe和线编号构成。 ( )
2.54 按标准规定，碳钢、低合金钢和不锈钢均属黑色金属，可采用碳钢像质计。 ( )
3.1 像质计灵敏度2.0%，是指大于2.0%透照厚度的缺陷均可被检出。 ( )
3.2 底片上缺陷影像的尺寸都大于实际缺陷的尺寸。 ( )
3.3 X、γ射线通过工件相邻两个不同厚度区域后的射线强度差与通过较大厚度区射线强度的比，称主因对比度，又称工件对比度。 ( )
3.4 主因对比度与工件厚度变化引起的黑度差有关。 ( )
3.5 X、γ射线透照工件时，由于相邻区域射线强度存在差异所产生的对比度称主因对比度。 ( )
3.6 透照厚度差相同的工件，采用高电压的主因对比度低。 ( )
3.7 通过同一部件邻近两厚度部位的射线强度差越小，则主因对比度越大。 ( )
3.8 使用较低能量的射线可提高主因对比度，但同时会降低胶片对比度。 ( )
3.9 透照厚度差相同的工件，采用高电压与低电压相比，主因对比度（工件对比度）低。 ( )
3.10 通过同一部件邻近两厚度部位的射线强度差越小，则主因对比度越小。 ( )
3.11 改变胶片的曝光量引起相应底片上黑度差的固有能力称为胶片对比度。 ( )
3.12 在主因对比度一定的情况下，由胶片系统影响对比度的因素称胶片对比度。
( )
3.13 胶片卤化银粒子的平均大小，称胶片粒度。 ( )
3.14 底片对比度就是底片上相邻区域的黑度差。 ( )
3.15 线质变硬，底片对比度提高。 ( )
3.16 任何情况下，底片的对比度越大越好。 ( )
3.17 厚工件中的紧闭裂纹，透照方向适当时，一定能被检出。 ( )
3.18 窄束与宽束射线相比，窄束射线的对比度高。 ( )
3.19 射线强度提高，底片宽容度增大。 ( )
3.20 用增大射线源到胶片距离的方法可减小射线照相固有不清晰度。 ( )
3.21 胶片颗粒度越大，固有不清晰度也越大。 ( )
3.22 射线底片上叠加在工件影像上的黑度随机涨落，即影像黑度的不均匀程度称底片影像颗粒度。 ( )
3.23 底片的颗粒度随射线能量的提高而增大。 ( )
3.24 底片影像颗粒度与胶片卤化银的粒度是同一概念。 ( )
3.25 透照厚度增大，散射比增大。 ( )
3.26 像质计灵敏度与缺陷检出率是一个概念。 ( )
3.27 减小最小可见对比度△Dmin，不利于识别小缺陷。 ( )
3.28 观片灯亮度提高，最小可见对比度△Dmin减小，能分辨的黑度范围向高黑度一边扩展。 ( )
3.29 在较暗的室内评片，消除了散射光影响，底片的最小可见对比度△Dmin减小，有利于分辨缺陷。 ( )
